透射電子顯微鏡（英語：Transmission Electron Microscope，縮寫TEM），簡(jiǎn)稱透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射電子顯微鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～百萬倍，用于觀察超微結(jié)構(gòu)，即小于0.2&micro；光學(xué)顯微鏡下無法看清的結(jié)構(gòu)，又稱“亞顯微結(jié)構(gòu)”。

簡(jiǎn)介

TEM = Transmission Electron Microscope 透射電子顯微鏡，簡(jiǎn)稱：透射電鏡。

描述

透射電鏡是研究材料的重要儀器之一，在納米技術(shù)的基礎(chǔ)研究及開發(fā)應(yīng)用中也不例外。但是用透射電鏡研究材料微觀結(jié)構(gòu)時(shí)，試樣必須是透射電鏡電子束可以穿透的納米厚度的薄膜。單體的納米顆粒或納米纖維一般是透射電鏡電子束可以直接穿透的。研究者通常把試樣直接放在微柵上進(jìn)行透射電鏡觀察。但是由于納米顆?；蚣{米纖維容易團(tuán)聚，因此，用這種方法常常得不到理想的結(jié)果，有些研究?jī)?nèi)容也難以實(shí)施。比如∶納米顆粒的表面改性的研究，納米纖維的橫切面研究都比較困難，研究界面問題則有更大的難度。因此，納米材料的透射電鏡研究，其樣品制備問題是一個(gè)值得探討的重要課題。對(duì)此，方克明教授進(jìn)行了研究，探索了一種比較適用的制樣方法。該方法可以從納米顆?；蛭⒚最w粒中直接切取可以進(jìn)行透射電鏡研究的薄膜，對(duì)進(jìn)行納米纖維橫切面觀察或納米界面觀察的制樣也有很高的效率。

這一技術(shù)的特點(diǎn)是從納米或微米尺度的試樣中直接切取可供透射電鏡或高分辨電鏡研究的薄膜。試樣可以為簡(jiǎn)單顆粒或表面改性后的包覆顆粒，對(duì)于纖維狀試樣，既可以切取橫切面薄膜也可以切取縱切面薄膜。對(duì)含有界面的試樣或納米多層膜，該技術(shù)可以制備研究界面結(jié)構(gòu)的透射電鏡試樣。技術(shù)的另一重要特點(diǎn)是不損傷試樣的原始組織。制膜過程中不使用高溫，不接觸酸堿，必要時(shí)也可以不接觸水或水溶液。

TEM = Test for English Majors 英語專業(yè)等級(jí)考試

分為英語專業(yè)四級(jí) - TEM4和八級(jí) - TEM8

考試目的是為檢測(cè)全國高校本科英語專業(yè)教學(xué)大綱執(zhí)行情況而進(jìn)行的本科教學(xué)考試。

報(bào)名資格

參加本科專業(yè)英語四級(jí)統(tǒng)測(cè)報(bào)名對(duì)象為：

（1）經(jīng)教育部備案或批準(zhǔn)的高等院校中英語專業(yè)二年級(jí)本科生。

（2）經(jīng)教育部備案或批準(zhǔn)的高等院校中修完英語專業(yè)基礎(chǔ)階段教學(xué)大綱規(guī)定課程的二、三年制最后一學(xué)年的大專生。

（3）教育部備案或批準(zhǔn)有學(xué)歷的成人高等教育學(xué)院中四年制即脫產(chǎn)學(xué)習(xí)的英語專業(yè)（第二學(xué)年）本科生；五年制即不脫產(chǎn)學(xué)習(xí)的、修完英語專業(yè)基礎(chǔ)階段教學(xué)大綱規(guī)定課程（第三學(xué)年）的本科生。不脫產(chǎn)的三年制大專生，必須在第三學(xué)年時(shí)方可報(bào)名參加專業(yè)英語四級(jí)測(cè)試。

（4）重點(diǎn)外語類院校中，非英語專業(yè)的本科生中當(dāng)年參加英語六級(jí)考試且成績(jī)?cè)?0分以上，可參加當(dāng)年專業(yè)英語四級(jí)考試。

（5）參加四級(jí)測(cè)試的考生只有一次補(bǔ)考機(jī)會(huì)。

參加本科專業(yè)英語八級(jí)統(tǒng)測(cè)報(bào)名對(duì)象為：

（1）經(jīng)教育部備案或批準(zhǔn)的高等院校中英語專業(yè)四年級(jí)本科生。

（2）經(jīng)教育部批準(zhǔn)有學(xué)歷的成人高等教育學(xué)院中完成四年制即脫產(chǎn)學(xué)習(xí)的英語專業(yè)（第四學(xué)年）本科生；五年制即不脫產(chǎn)學(xué)習(xí)英語專業(yè)（第五學(xué)年）的本科生。

（3）非英語專業(yè)六級(jí)考試通過的學(xué)生可報(bào)名參加專業(yè)英語八級(jí)考試。

（4）參加八級(jí)測(cè)試的考生只有一次補(bǔ)考機(jī)會(huì)。

凡未通過基礎(chǔ)階段（TEM4）統(tǒng)測(cè)的考生，也可參加高年級(jí)階段（TEM8）的統(tǒng)測(cè)。

英語專業(yè)的專生本學(xué)生因超出英語專業(yè)基礎(chǔ)階段（TEM4）統(tǒng)測(cè)規(guī)定的考試年限（祥見報(bào)名對(duì)象），一律不得參加英語專業(yè)基礎(chǔ)階段（TEM4）統(tǒng)測(cè)，但可在英語專業(yè)專生本學(xué)習(xí)的最后一學(xué)期參加高年級(jí)階段（TEM8）統(tǒng)測(cè)；因各種原因未在規(guī)定的考試年限參加TEM4（第四學(xué)期）或TEM8（第八學(xué)期）統(tǒng)測(cè)的專業(yè)英語考生，不得以補(bǔ)考名義參加次年的TEM4或TEM8統(tǒng)測(cè)。